Le DMA25/50 permet par l'intermédiaire de son excitateur électrodynamique d'appliquer à un échantillon de matériau une sollicitation statique ou dynamique en force (25 ou 50 N) ou en déplacement imposé (+ ou - 3 mm). Les trois voies d'acquisition permettent la mesure de la température, de la force transmise et du déplacement, à partir desquels la raideur complexe. Les modules d'élasticité complexes et les courbes maîtresses statique et dynamique sont déterminés par un post traitement des mesures. Le DMA25/50 permet de réaliser des essais transitoires (fluage, relaxation, rampe de force et de déplacement), dynamiques ou de dilatométrie.
Le microscope à force atomique (AFM = Atomic Force Microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée. Ce mode d'observation permet alors de réaliser la cartographie locale des grandeurs physiques caractéristiques de l'objet sondé (force, capacité, intensité de rayonnement, courant...), mais également de travailler dans des environnements particuliers ( milieux sous vide, liquides ou ambiants).
